1.4 D/A測試方法

測試開發時用程序編寫生成一數字序列作為DAC測試時的輸入向量。按照測試方案該數字序列為2.5MHz采樣132kHz信號，8比特量化。 ATE按照此向量文件產生8位數字信號作為待測DAC的輸入，DUT的模擬輸出被ATE的模擬波形采樣模塊（HLFD）采樣。測試程序對HLFD采樣結果進行FFT運算得到SNR參數，并由SNR的值判斷DUT是否通過DAC測試。其D/A功能測試原理如圖5所示。

2 程序調試及使用中的問題及解決方法

2.1 ADC測試中的時鐘問題

在現場調試ADC測試程序時，程序運行完畢發現SNR為負值，用ATE的System view發現DCAP已經采樣得到數據，且其頻譜為一單頻點（正弦信號）。

原因分析：從DCAP中數據的頻譜來看，ADC輸入信號為正弦，且采樣得出了正弦序列。同時由于測試程序中是按132 kHz處的為信號來計算SNR的，所以可能的結果是計算程序的問題，或者HLFG模塊產生的正弦信號不為132kHz.

使用示波器再次調試后發現，HLFG模塊的實際輸出頻率為205 kHz,而時鐘模塊的輸出時鐘為3.9MHz,并不是預期的2.5MHz.在重新確認時鐘模塊連接、程序配置后，時鐘恢復正常，ADC測試程序通過調試。

　　2.2 DAC測試的采樣問題

DAC程序調試初期，ATE數字序列產生正確，DAC輸出132 kHz模擬信號，但HLFD模塊一直未能成功采樣，采樣結果全部為0。

通過查看手冊和與ADVANTEST的工程師溝通，發現有兩個問題：

（1）ATE測試程序一般是順序執行，程序中是Pattern產生在前、HLFD采樣在后，所以當HLFD開始采樣時，數字序列已經不再產生，DAC也不會有輸出；

（2）HLFD模塊需要的采樣時間較長，因為HLFD模塊的數據并不是直接采樣得到，而是反復采樣后，計算恢復得到。

針對這兩個問題，對測試程序做出修改：程序中強制讓HLFD模塊與Pattern發送并行進行，并將Pattern文件重復發送4次，以確保HLFD模塊能完成采樣。

修改后，HLFD模塊正確采樣，DAC測試程序通過調試。

2.3 四同測程序調試中的時鐘模塊問題

在四同測時，當芯片1測試失敗，則其余芯片2、3、4的ADC、DAC測試均無法通過。

原因分析：如果芯片1測試失敗進行錯誤處理時，ATE會給機械手（Handler）信息將芯片1分類至故障芯片，并在后續的測試項目中不對芯片1給出電源或信號。對于ATE而言，時鐘模塊的控制信號線與芯片的數字是無區別的，所以在芯片1測試失敗后，ATE斷開對時鐘模塊的控制信號，則時鐘模塊工作異常并導致ADC、DAC測試故障。

此問題有兩種解決方法：一是在程序中先測芯片2、3、4,再測芯片1.這樣的問題是會把四同測的測試時間增加一倍，實際上成為了二同測。方法二是ATE上引出四組時鐘模擬控制信號，與進行或，這樣只要有芯片還在進行測試，該組控制信號就可實現對時鐘模塊的正確配置，且無需增加測試時間，只需在時鐘模塊上加一部分或門電路即可。

2.4 生產測試過程中DAC的采樣問題

程序調試完成后正式投入使用，一直工作穩定，在測試到第三批芯片時，DAC測試項目出現大范圍的測試不通過。現象是大部分芯片的SNR都略低于通過門限，現象穩定。

原因分析：考慮到前兩批芯片（約20 000片）一直測試正常，且此次測試未通過的芯片都是處于臨界不通過的狀態，所以初步猜想可能是在HLFD采樣時DUT尚未完全穩定工作。通過分析DAC測試程序，在pattern發生開始后HLFD立即開始采樣，可能此批芯片的穩定時間與前兩批有異，所以導致DAC測試失敗。在HLFD模塊采樣前加入10 ms延時保證DUT穩定工作，重新測試，故障問題解決。

3 測試成本壓縮

成本的因素從頭至尾影響著測試的開發。在制定測試方案時就考慮到測試成本的降低，當CP測試良率很高，以至于CP測試費用大于失效芯片的封裝費用時，即可考慮取消CP測試，但在量產初期CP測試還起到給予晶圓廠信息反饋的目的。從芯片應用的反饋發現USER_ADC和USER _DAC幾乎從未被使用，所以經過與系統集成商的溝通，在FT測試中取消了對USER_ADC和USER_DAC的測試，以降低測試成本。

進一步降低測試成本的方法還有對SCAN的測試故障結果進行分類，如果pattern的某些部分從未出錯，在不影響測試結果的條件下，可考慮將部分pattern取消。

4 結論

隨著集成電路的發展，芯片特征尺寸的降低與復雜度的提高對測試方法學產生了巨大影響，同時高速、數模混合的趨勢對高性能ATE的需求帶來了成本壓力。本文首先討論了數模混合芯片的常用測試方法，然后實現了基于愛德萬T6575的測試開發及調試，并最終保證了該電力網通信芯片的順利量產。本測試程序已在南通富士通封測廠實際測試出廠芯片逾百萬片，保證了芯片品質，達到了預期設計要求。

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